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TO BURN IN SYSTEM
Rhino_A9_X
四槽式小批量生产LD老化测试设备
APC/ACC LD TO Burn In System
Rhino_A9_S
上下两槽式LD老化测试设备
APC/ACC LD TO Burn In System
Rhino_A9_L
上下两槽式PD/APD老化设备
PD/APD TO Burn In System
Rhino_A9_Y
四槽式大量生产型LD老化测试设备
APC/ACC LD TO Burn In System
Rhino_A9_T
左右两槽式LD老化测试设备
APC/ACC LD TO Burn In System
Rhino_A9_J
双槽型高功率脉冲式LD老化测试设备
Pulsed Mode Hi Power LD TO Burn In System
Rhino_A9_K
本产品用于测试TO封装型式之雷射/PD元件, 机台提供可程式化控制之LD电流源及PD电压源,并提供多项控制及防护机制.
COB (AOC) BURN IN SYSTEM
Rhino_A8_X
四槽式大量生产型COB老化测试设备
COB(AOC) Burn In System
Rhino_A8_S
上下双槽式生产型COB老化测试设备
COB(AOC) Burn In System
Rhino_A8_L
高瓦数双槽式生产型COB老化测试设备
COB(AOC) Burn In System
Rhnio_A8_Y
上下双槽式小批量生产型COB老化测试设备
COB(AOC) Burn In System
Rhino_A8_T
上下双槽式大量生产型COB老化测试设备
COB(AOC) Burn In System
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